显微熔点仪 X-4BII

产品特点 / CHARACTERISTIC

    1、仪器采用显微镜观察方法,既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定;

    2、带有防风罩,减少了环境对测试结果的影响。


产品参数/ PARAMETER

仪器型号

X-4BII

测量范围

室温~320 ℃

测量方法

目视

测量模式

毛细管法、热台法

最小示值

0.1℃

重复性

≤200℃  ±1℃

>200℃  ±2℃

观察方式

双目体视显微镜

放大镜倍数

40×-100×变倍

电源

220V±22V,50Hz±1Hz

仪器尺寸

30mm×22mm×44mm

仪器净重

4.5kg


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